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三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C3200S4

簡要描述:

三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C3200S4的表面粗糙度/ 輪廓測量儀FORMTRACER/SV-C3200S4,貨號525-481DC-1,X1 軸測量范圍100 mm,花崗巖基座尺寸600×450 mm,垂直移動300 mm。

更新時間:2018-03-02

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三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C3200S4

   三豐表面粗糙度輪廓測量儀SV-C3200S4的表面粗糙度/ 輪廓測量儀FORMTRACER/SV-C3200S4,貨號525-481DC-1,X1 軸測量范圍100 mm,花崗巖基座尺寸600×450 mm,垂直移動300 mm。

檢出器測力:0.75 mN

貨號

主機規格

X1 軸測量范圍

垂直移動

花崗巖基座尺寸

525-481DC-1

SV-C3200S4

100 mm

300 mm

600×450 mm

 

分析軟件

 

FORMTRACEPAK V5.4/E SVC/CS

 

 

 

2.  主機規格

 

2-1.  測量表面粗糙度

測量范圍

X1

 

100 mm

 

檢出器

800 μm80 μm8 μm

類型

X1

 

反射型線性編碼器

 

檢出器

 

差動電感式

分辨

X1

 

0.05 μm

 

檢出器

 

0.01μm800 μm

0.001 μm80 μm

0.0001 μm8 μm

直線度

 

 

(0.05+L/1000)μm  L為驅動長度(mm)

(以X1軸為水平方向上)

測針上/下運作

 

弧形移動

測針方向

 

 

向下

測力

 

 

0.75 mN

測針針尖形狀

 

60°、R2 μm

 

2-2.  測量輪廓形狀

測量范圍

X1

 

100 mm

 

Z1檢出器

60 mm

類型

X1

 

反射型線性編碼器

 

Z1

 

圓弧光柵尺

分辨

X1

 

0.05 μm

 

Z1

 

0.04 μm

直線度

 

0.8μm/100 mm (以X1軸為水平方向上)

指示精度

X1

 

±(0.8+0.01L)μm  L為驅動長度(mm)

20℃)

Z1

 

±(1.6+|2H/100)μm

H基于水平位置的測量高度(mm)

測針上/下運作

弧形移動

測量方向

 

 

/向后

測針方向

 

 

向上/ 向下

測力

 

 

30 mN

跟蹤角度

向上

 

77°(依表面粗糙度而定

 

向下

 

83°(依表面粗糙度而定

*使用配置的標準測頭

測針針尖

*半徑

 

25 μm

 

材料

 

硬質合金

 

 

 

2-3.  主機

垂直移動

Z2 (立柱)

300 mm

長度基準

Z2

 

ABSOLUTE 線性編碼器

分辨

Z2

 

1 μm

X1 軸傾角范圍

 

±45°

驅動速度

X1

 

080 mm/s外加手動

 

Z2

 

030 mm/s外加手動

測量速度

 

 

0.025 mm/s

基座尺寸

600×450 mm

基座材料

 

 

花崗巖

尺寸

主機

996×575×966 mm

 

控制器

221×344×490 mm

 

遙控箱

248×102×62.2 mm

重量

主機

140 kg

 

控制器

14 kg

 

遙控箱

0.9 kg

使用溫度范圍

 

1525

使用濕度范圍

 

20~80 %RT  但是不能結露

保存溫度范圍

 

-1050

保存濕度范圍

 

5~90 %RT  但是不能結露

 

 

100120V200240 V±10%AC50/60 Hz

消耗功率

 

 

400W

 

 

 

 

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